蓝牙射频测试模式

蓝牙产品的射频测试,是其进行蓝牙认证流程中,测试环节的重要部分。而射频测试得以正常进行的前提,是客户提供的样品能够成功进行相应的测试模式。这里提到的测试模式是指,由蓝牙技术规范(SIG发布)规定,支持蓝牙的收发测试,能用于配合射频或基带层的测试。即在测试模式下,蓝牙产品能够处于测试标准要求的特定工作状态,如特定的跳频模式、工作信道、调制方式以及数据包类型等参数。所有的蓝牙芯片一定会有测试模式,不同的芯片进入测试模式的方法不同,具体是由不同的芯片厂商决定。

蓝牙样品能否进入测试模式,是对其开展射频测试的前提和关键。依据现行蓝牙技术规范,已定义的蓝牙测试模式如下所示:
Classic Bluetooth(BR/EDR)技术测试模式:Test Mode (信令模式)
Bluetooth Low Energy(BLE)技术测试模式:Direct Test Mode (非信令模式)
通常,在进行Classic Bluetooth射频测试时,被测物在成功进入Test Mode后,蓝牙测试仪(如R&S CBT, Anritsu MT8852B等)通过射频线路,与被测物进行信令连接模式,与从而控制其工作状态,完成各测试项目。除进入Test Mode时可能需要要额外的控制接口或控制线外,测试过程中是不需要外部干预对DUT进行设置。

然而,不同于Classic Bluetooth射频Test Mode,Bluetooth Low Energy是没有信令模式的,它的Direct Test Mode测试模式不能与蓝牙测试仪建立双向链路,即被测物的工作状态不能通过蓝牙测试仪来控制,须通过以下两种连接方式之一,来进入Direct Test Mode,通过特定指令来实现。